光計測装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：清水守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999239883
Publication number (International publication number)：2001066247
Application date： Aug. 26, 1999
Publication date： Mar. 16, 2001
Summary：

【要約】【課題】 2次元検出器アレイによる光ヘテロダイン測定を有効に行うことのできる光計測装置を提供する。【解決手段】光計測装置において、光ビームを出射する光源101と、この光源から出射された光ビームを、被測定検体111が配置される被測定検体の配置位置を経由する信号光と、この被測定検体の配置位置を経由する光路とは異なる光路を経由する参考光とに二分するとともに、前記被測定検体の配置位置を経由した後の信号光と、前記異なる光路を経由した参考光とを互いに重畳することにより前記信号光と前記参照光とが干渉した干渉光を生成する干渉光学系と、前記干渉光学系が、前記信号光の周波数と前記参照光の周波数を相対的にシフトさせる周波数シフタ103,109と、前記干渉光学系が、前記信号光と前記参照光のうち少なくとも一方の光路上に光を周期的に遮断する光学装置とを備え、前記光学装置の遮断周波数を前記信号光と前記参照光の間の周波数差に等しくなるようする。

Claim (excerpt)：

(a)光ビームを出射する光源と、(b)該光源から出射された光ビームを、被測定検体が配置される被測定検体の配置位置を経由する信号光と、前記被測定検体の配置位置を経由する光路とは異なる光路を経由する参考光とに二分するとともに、前記被測定検体の配置位置を経由した後の信号光と、前記異なる光路を経由した参考光とを互いに重畳することにより前記信号光と前記参照光とが干渉した干渉光を生成する干渉光学系と、(c)該干渉光学系が、前記信号光の周波数と前記参照光の周波数を相対的にシフトさせる周波数シフタと、(d)前記干渉光学系が、前記信号光と前記参照光のうち少なくとも一方の光路上に光を周期的に遮断する光学装置とを備え、(e)前記光学装置の遮断周波数を前記信号光と前記参照光の間の周波数差に等しくなるようにしたことを特徴とする光計測装置。

IPC (6)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 , G01B 9/02 , G01B 11/24 , G01B 11/30 , G01J 9/04

FI (6)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 E , G01B 9/02 , G01B 11/30 H , G01J 9/04 , G01B 11/24 D

F-Term (53)：

2F064AA09 , 2F064BB00 , 2F064EE04 , 2F064EE05 , 2F064GG02 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG47 , 2F064GG53 , 2F064GG55 , 2F064GG70 , 2F064HH03 , 2F064HH08 , 2F064JJ05 , 2F065AA49 , 2F065AA52 , 2F065FF52 , 2F065GG04 , 2F065GG07 , 2F065GG21 , 2F065GG22 , 2F065HH13 , 2F065HH15 , 2F065JJ02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ09 , 2F065JJ25 , 2F065JJ26 , 2F065LL00 , 2F065LL03 , 2F065LL04 , 2F065LL10 , 2F065LL46 , 2F065LL57 , 2F065NN06 , 2F065NN08 , 2F065PP12 , 2F065QQ16 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059JJ17 , 2G059JJ30 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059MM06

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