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J-GLOBAL ID：200903035866296522

被検体通過光中の散乱成分抑制方法

Inventor： 清水 孝一 ,  中井 達也 ,  山本 克之 ,  三上 智久 ,  田村 守
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991075348
Publication number (International publication number)：1994114062
Application date： Apr. 08, 1991
Publication date： Apr. 26, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被検体の照射される光の近軸散乱光以外の散乱光による影響を抑制し、高分解能で光を用いた被検体内部の情報の可視化を可能とするための被検体通過光中の散乱成分抑制方法を得る。【構成】 散乱成分抑制方法を実現するための散乱成分抑制装置3は、試料4を満たしたアクリル製の容器5と、この容器5に光ビームを試料に垂直に照射する光源6と、この光源6と対向した出射面の光軸上に設けられた光検出器7とを備えていて、容器5内には、中央部分にナイフエッジ8が設けられている。また、光検出器7は、中央部に束ねて配設された複数の光ファイバーからなる光ファイバー束9と、その周辺部の中心から離れた位置に同心円状に等間隔に配設された複数のファイバー10とからなり、受光出力は図示しない2個のフォトダイオードに導かれ、その出力が差動増幅器11に入力されるようになっている。

Claim (excerpt)：

被検体に光を照射する手順と、前記照射する手順によって照射され、前記被検体内を通過した光のうちの近軸散乱光成分とこの近軸散乱光以外の散乱光成分との和を検出する第1の検出手順と、前記照射する手順によって照射され、前記被検体内を通過した光のうちの近軸散乱光以外の散乱光成分のみを検出する第2の検出手順と、前記第1の検出手順による検出出力と前記第2の検出手順による検出出力とを用いた演算により、前記近軸散乱光以外の散乱光成分を抑制する手順とを備えたことを特徴とする被検体通過光中の散乱成分抑制方法。

IPC (3)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/49