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J-GLOBAL ID：200903036017089293

測量用装置

Inventor： 大友 文夫 ,  徳田 義克
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994138621
Publication number (International publication number)：1996005743
Application date： Jun. 21, 1994
Publication date： Jan. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測距用にもデータ送信用にも使用可能な照射光束を反射対象物体に向けて照射することのできる測量用装置を提供する。【構成】 反射対象物体102に向けて照射光束を照射し、反射対象物体102により反射された反射光束に基づき反射対象物体102を検出すると共に反射対象物体102までの距離を測定する測量用装置において、照射光束を発生する光源部106と、距離測定のために照射光束を所定周波数で変調すると共に反射対象物体102に所定データを送信するために所定タイミングで所定データに基づき照射光束の位相を変化させるように光源部106を駆動する光源駆動部132と、反射対象物体102により反射された反射変調光束を受光する受光部105と、受光部105の出力の位相に基づき反射対象物体102までの距離を測定する距離測定部131とから構成されている。

Claim (excerpt)：

反射対象物体に向けて照射光束を照射し、該反射対象物体により反射された反射光束に基づき該反射対象物体までの距離を測定すると共に反射対象物体側に設ける受信部に所定データを送信する測量用装置において、照射光束を発生する光源部と、距離測定のために前記照射光束を所定周波数で変調すると共に前記反射対象物体に前記所定データを送信するために所定タイミングで前記所定データに基づき前記照射光束の変調周波数の位相を変化させるように前記光源部を駆動する光源駆動部と、前記反射対象物体により反射された反射変調光束を受光する受光部と、該受光部の出力の位相に基づき前記反射対象物体までの距離を測定する距離測定部とから構成されている測量用装置。

IPC (4)：

G01S 17/36 ,  G01C 3/06 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭58-186897
  
• 特公昭41-011005