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J-GLOBAL ID：200903036031351421
発光分光分析方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井内 龍二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994018106
Publication number (International publication number)：1995225188
Application date： Feb. 15, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：
【要約】【構成】 試料台に載置した鋼試料の分析面と該分析面に対向配置された電極との間で放電させ、発生したスペクトルを分光する発光分光分析方法において、前記鋼試料を発光分光分析する際の分析温度として予め所定の温度を設定しておき、溶鋼からサンプリングした熱間鋼試料1を切断工程-冷却恒温工程-乾燥工程-研磨工程の各工程において前記所定温度以下で調製し、研磨工程終了後に分析用鋼試料11を前記所定温度に設定して発光分光分析を行う発光分光分析方法。【効果】 前記試料調製の全工程において分析用鋼試料11の分析面に形成される酸化皮膜量を前記設定温度相当量に制御することができるので、前記所定温度で発光分光分析を行うことにより鋼試料中の微量成分の高精度分析を行うことができる。
Claim (excerpt)：
試料台に載置した鋼試料の分析面と該分析面に対向配置された電極との間で放電させ、発生したスペクトルを分光する発光分光分析方法において、前記鋼試料を発光分光分析する際の分析温度として予め所定の温度を設定しておき、溶鋼からサンプリングした熱間鋼試料を切断工程-冷却恒温工程-乾燥工程-研磨工程の各工程において前記所定温度以下で調製し、研磨工程終了後に前記鋼試料を前記所定温度に設定して発光分光分析を行うことを特徴とする発光分光分析方法。
IPC (5)：
G01N 21/67
, G01J 3/443
, G01N 1/28
, G01N 21/78
, G01N 33/20
