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J-GLOBAL ID：200903036077748199
測距装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992065352
Publication number (International publication number)：1993264266
Application date： Mar. 23, 1992
Publication date： Oct. 12, 1993
Summary：
【要約】【目的】 複数回の測距値を積算して測距する際の積分用コンデンサを不用にする。【構成】 投光手段1より被写体に向け投光し、該被写体からの反射光を受光手段3で受光する動作を何回が繰り返す。これをアナログ測距演算手段4で演算して被写体距離を求めた後、A/D変換してデジタルデータにする。このデジタル化された被写体距離を加算手段6でデジタル的に蓄積することにより、積分コンデンサなしで、複数回の測距演算値から被写体距離を求める。
Claim (excerpt)：
測距対象物にパルス光を投光する投光手段と、この投光手段によるパルス光を複数回、上記測距対象物に向けて投光させる投光制御手段と、この投光制御手段によって投光されたパルス光の上記測距対象物からの反射光を受光し、光電変換信号を出力する受光手段と、上記光電変換信号を受け、上記測距対象物までの距離を演算するアナログ測距演算手段と、上記アナログ測距演算手段による演算結果をA/D変換するA/D変換手段と、上記投光制御手段による投光に同期して上記A/D変換手段による上記測距結果を加算し、デジタル的に蓄積する加算手段と、を具備し、上記加算手段の出力に基づいて上記測距対象物までの距離を求めることを特徴とする測距装置。
IPC (2)：
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