色特性の測定及び解析用を主とするスペクトル放射を測定・解析する装置及び方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：志賀正武 (外2名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996510620
Publication number (International publication number)：1998508940
Application date： Sep. 24, 1995
Publication date： Sep. 02, 1998
Summary：

【要約】所望の波長範囲におけるスペクトル放射の測定及び解析用の装置及び方法を提供する。N1個の放射源及び、該所望波長範囲における放射を検出する検出器が設けられる。放射源は互いに一次的に独立で、上記所望波長範囲を重畳してカバーするように選択される。検出器も同様に、スペクトル特性が互いに一次的に独立で、上記所望波長範囲を重畳してカバーするM1個のセンサを有する。また、一次的に独立なスペクトル特性をもって検出器の出力値とリンクされ、観察下の放射におけるスペクトル変化の決定に用いることができる複数の較正関数が格納される記憶装置が配備された制御ユニットが設けられる。

Claim (excerpt)：

所定波長範囲におけるスペクトル放射を測定及び解析し、特に、色特性を検出する装置であって、スペクトルがある波長範囲に分布する放射を発するN1個の放射源であって、前記放射は該所定波長範囲中で少なくとも部分的に存在し、個々の前記放射源のスペクトル特性は互いに異なり、N1は1以上であるような放射源と、前記所定波長範囲内の放射を検出し、検出された放射の強度を表す電気信号を発生する検出器と、本装置の放射を制御し、前記放射源が、連続する複数の時間的区間において所定の結合形態で駆動されるように制御する制御ユニットと、前記放射源の結合の各々に関する前記検出器により検出された値が記録及び格納される記憶装置とを有し、前記制御ユニットは、前記格納値から、前記放射源のスペクトル特性を決定するための値を算出するものである装置において、前記放射源は、そのスペクトル特性が前記所定波長範囲中で重畳するように選択され、前記光源のスペクトル特性は更に、前記光源の少なくともN2個の特性が互いに一次的に独立になるようなものであり、前記検出器はM1個のセンサを有し、それらセンサの前記所定波長範囲におけるスペクトル特性は該所定波長範囲を全てカバーするように重畳しており、M1は1以上であり、前記センサのスペクトル特性は更に、少なくともM2個の前記放射源の特性が互いに一次的に独立であり、 N2及びM2の値を乗算して得られる積P(=N2*M2)は1より大きく、前記記憶装置内にP個の較正関数が格納され、それらは前記所定波長範囲に少なくとも一部がかかり、個々の機器により測定されるP個の標準サンプルのスペクトル強度分布とそれらの既知の反射スペクトルとの間の関係を決定するものであり、前記反射スペクトルのスペクトル特性は互いに一次的に独立及び、全波長範囲が記録されるように少なくとも部分的に重畳し、前記較正関数を、前記検出器により得られる被測定放射に関する前記測定値と結合することにより、前記被測定放射のスペクトル行程を決定できることを特徴とする装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開昭61-277024
特開昭60-135832
特開昭62-284226

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