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J-GLOBAL ID：200903036143207137

測定プログラム自動作成機能を有する測定システム

Inventor： 香 村 章 夫 ,  倉 橋 康 浩 ,  赤 池 公 治
Applicant, Patent owner： 株式会社牧野フライス製作所
Agent (1)： 福山 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993344145
Publication number (International publication number)：1995174547
Application date： Dec. 17, 1993
Publication date： Jul. 14, 1995
Summary：

【要約】【目的】安価で汎用性が高く、迅速な測定を可能とする測定プログラム自動作成機能を有する測定システムを提供する。【構成】被測定物の測定個所を測定個所設定手段11で設定し、測定開始位置、測定終了位置及び、アプローチ距離等の所定の位置情報を位置情報設定手段13で設定し、前記測定個所における法線ベクトルデータを法線ベクトル演算手段12で求め、設定された位置情報及び前記法線ベクトル演算手段12で求めたデータの解読処理をデータ解読手段21で行い、NC測定プログラムを測定プログラム生成手段23で生成し、NC測定機3へ出力する。

Claim (excerpt)：

被測定物に測定ヘッドを当接させて前記被測定物の形状精度や寸法を測定するための測定プログラムを自動作成する機能を有する測定システムにおいて、前記被測定物の測定個所を設定する測定個所設定手段と、前記測定個所における法線ベクトルデータを演算する法線ベクトル演算手段と、測定開始位置、測定終了位置、アプローチ距離等の所定の位置情報を設定する位置情報設定手段と、前記各手段から出力されるデータを解読するデータ解読手段と、前記データ解読手段による解読結果に基づいて測定プログラムを生成して出力する測定プログラム生成手段と、を備えて成ることを特徴とする測定プログラム自動作成機能を有する測定システム。

IPC (2)：

G01B 21/20 101 ,  G06F 9/06 530

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-163605
  
• 特開平4-285804
  
• 特開昭63-206607
  
• 特開昭61-213615