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J-GLOBAL ID：200903036305952443

異物除去装置

Inventor： 横山 廣一 ,  安田 一成 ,  松宮 正明
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998219446
Publication number (International publication number)：2000042499
Application date： Aug. 03, 1998
Publication date： Feb. 15, 2000
Summary：

【要約】【課題】 検査対象物を横送りしながら異物を色により検出し、除去し得る異物除去装置を提供する。【解決手段】 コンベア1により横送りしながら、偏心ローラ14により低くならしたリサイクル材3を、光学センサ4により検査し、無端ベルト13から所定高さ以上の検査対象物を検出するとこれを異物と判定し、一方、コンベア1の上方からカラー撮像機5によって撮影したカラー画像に処理を施して図形を得、この図形の面積、縦横比などを演算し、基準値より大きいものを異物として検出する。異物とされた検査対象物については、コンベア1上の位置をトラッキングし、排出機6の位置に到達すると排出機6を駆動してコンベア1上から排出する。

Claim (excerpt)：

搬送手段により横送りされる検査対象物を上方から撮影し、撮影した画像を処理して異物を検出し、検出した異物を除去する異物除去装置において、カラー画像撮影手段と、該カラー画像撮影手段から取り込んだ画像を色相変換して色相画像を得る変換処理手段、該変換処理手段により得た色相画像を、異物について定めた色の範囲に従って、2値化処理をする二値化処理手段、該二値化処理手段により得た画像から検査対象物の図形を抽出する抽出手段と、抽出した図形に関連する値を演算する演算手段及び演算した値と所定の基準値とを比較することにより検査対象物から異物を検出する判定手段を有する画像処理部とを備えることを特徴とする異物除去装置。

IPC (4)：

B07C 5/342 ,  B65G 43/00 ,  B65G 43/08 ,  G01N 21/88

FI (4)：

B07C 5/342 ,  B65G 43/00 N ,  B65G 43/08 F ,  G01N 21/88 Z

F-Term (32)：

2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB20 ,  2G051BA20 ,  2G051CA02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA23 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051ED03 ,  2G051ED07 ,  2G051ED15 ,  3F027AA02 ,  3F027CA01 ,  3F027EA06 ,  3F027FA12 ,  3F027FA17 ,  3F079AD12 ,  3F079AD13 ,  3F079CA44 ,  3F079CB25 ,  3F079CB29 ,  3F079CB35 ,  3F079CC04 ,  3F079DA12 ,  3F079EA05