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J-GLOBAL ID:200903036328321505

光ディスク装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 吉田 茂明 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000055447
Publication number (International publication number):2001243641
Application date: Mar. 01, 2000
Publication date: Sep. 07, 2001
Summary:
【要約】【課題】 欠陥検出前後の制御の連続性を失うこと無く、欠陥検出期間が長い場合でも、再生等の操作の安定した駆動制御が可能な光ディスク装置を得る。【解決手段】 ディスク物理的歪補正信号発生手段11は、通常期間に位相補償信号S8がLPFを介して得られる信号をディスク物理的歪補正信号S11として出力し、欠陥検出期間は欠陥検出開始時にサンプリングしたLPFの出力信号をディスク物理的歪補正信号S11として出力する。外乱パルス検出手段13aは、位相補償信号S8からディスク物理的歪補正信号S11を減算して得られる外乱パルスS13aに基づき外乱パルス補正信号S13を出力する。加算手段12はディスク物理的歪補正信号S11と外乱パルス補正信号S13とを加算して欠陥補償信号S12を出力する。この欠陥補償信号S12は欠陥検出期間にアクチュエータ制御信号S20として付与される。
Claim (excerpt):
光ディスクに光を照射する光照射手段と、駆動制御信号に基づき前記光ディスクに関する所定の操作を行う駆動手段と、前記光ディスクからの反射光に関連した反射光情報を検出する反射光情報検出手段と、前記反射光情報に基づき、前記所定の操作における制御量を規定した通常制御信号を発生する通常制御信号発生手段と、前記反射光情報に基づき、前記光ディスクにおいて光学的情報が欠落する欠陥領域の有無を指示する欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段とを備え、前記欠陥検出信号が前記欠陥領域が無いことを指示する期間が通常期間、前記欠陥検出信号が前記欠陥領域が有ることを指示する期間が欠陥検出期間となり、前記通常期間において、前記通常制御信号の変動周波数を通過させ、高周波成分を除去するフィルタリング処理を前記通常制御信号に対し施して得られる低周波成分信号を低周波補正信号として発生し、前記欠陥検出期間において、前記通常期間から前記欠陥検出期間に切り替わる欠陥検出開始時にサンプリングした前記低周波成分信号を前記低周波補正信号として発生する低周波補正信号発生手段と、前記欠陥検出開始時から所定時間前まで遡った期間中における前記低周波補正信号と前記通常制御信号との差に基づき外乱パルスを認識し、該外乱パルスと同じ力積で極性を反転させて得られる第1の補正パルスを含む外乱パルス補正信号を発生する外乱パルス補正信号発生手段と、前記低周波補正信号に前記外乱パルス補正信号を加算して欠陥補償信号を得る加算手段と、前記通常期間は前記通常制御信号を前記駆動制御信号として選択し、前記欠陥検出期間は前記欠陥補償信号を前記駆動制御信号として選択する信号選択手段と、を備える光ディスク装置。
F-Term (9):
5D118AA17 ,  5D118BA01 ,  5D118BB01 ,  5D118BF02 ,  5D118CA07 ,  5D118CB03 ,  5D118CC06 ,  5D118CD02 ,  5D118CD03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 光ディスク装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-258455   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 特開昭60-171638
  • ディスク再生装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-343121   Applicant:ヤマハ株式会社
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Cited by examiner (2)
  • 光ディスク装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-258455   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 特開昭60-171638

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