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J-GLOBAL ID：200903036337421920
穴の面取り量検査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大場 充
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995259639
Publication number (International publication number)：1997101124
Application date： Oct. 06, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：
【要約】【課題】 面取りを有する穴の面取り量を画像処理を用いて自動で測定する方法を提供する。【解決手段】 面取りを有する穴の正面に対して斜め方向からその穴を横切るようにスリット光を照射し、その穴の正面方向に設置されたテレビカメラでスリット光の画像を撮像する。撮像された画像は画像処理装置に入力される。画像処理装置では、スリット光の面取りの内周エッジに対応した端点と外周エッジに対応した折れ曲がり点の座標を求める。最小自乗法で端点の座標から内周エッジを円近似し、また折れ曲がり点の座標から外周エッジを円近似して面取り量の最小値あるいは最大値を求める。
Claim (excerpt)：
面取りを有する穴に複数のスリット光を照射して撮像し、画像処理により穴の面取り量を算出する穴の面取り量検査方法であって、撮像された各スリット光の像に対して、面取りの内周エッジに対応したスリット光の端点と、外周エッジに対応したスリット光の折れ曲がり点を検出して各々の座標を求め、端点の座標を用いて面取りの内周エッジの円を計算し、折れ曲がり点の座標を用いて面取りの外周エッジの円を計算し、内周エッジの円と外周エッジの円から面取り量を求めて、面取り量の検査を行うことを特徴とする穴の面取り量検査方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B 11/24 K
, G06F 15/62 415
