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J-GLOBAL ID：200903036368530611

X線マイクロアナライザ等の自動定性分析装置

Inventor： 長塚 義隆 ,  吉田 康二
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 阿部 龍吉 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993198061
Publication number (International publication number)：1995055734
Application date： Aug. 10, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 各元素の存在の確信度を半定量的に算出し、この存在確信度に基づいた元素の存在判定を行うことができ、自動定性分析の精度の向上を図る。【構成】 スペクトルのピーク検出を行い波長と元素と特性X線のテーブルを参照して定性分析により元素同定処理を行う元素同定処理手段3、4と、同定された元素の同定の根拠となったスペクトルのKα、Lα又はMα線、Kβ、Lβ又はMβ線、及びこれらの高次線のピークについてその元素の存在を肯定する正の確信度と他の高次線との重なりまたは矛盾による負の確信度を求めその総計によって元素の存在する存在確信度を半定量的に求める確信度演算手段5、6と、求めた存在確信度の値から元素の存在または非存在の判定を行う判定手段7とを備えた。

Claim (excerpt)：

複数の異なった面間隔の分光結晶をもつ波長分散型X線分光器を走査して試料からの特性X線を検出して複数のスペクトルを収集するX線マイクロアナライザ等の自動定性分析装置であって、スペクトルのピーク検出を行い波長と元素と特性X線のテーブルを参照して定性分析により元素同定処理を行う元素同定処理手段と、同定された元素の同定の根拠となったスペクトルのKα、Lα又はMα線、Kβ、Lβ又はMβ線、及びこれらの高次線のピークについてその元素の存在を肯定する正の確信度と他の高次線との重なりまたは矛盾による負の確信度を求めその総計によって元素の存在する存在確信度を半定量的に求める確信度演算手段と、求めた存在確信度の値から元素の存在または非存在の判定を行う判定手段とを備えたことを特徴とするX線マイクロアナライザ等の自動定性分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭58-196446
  
• 特開昭63-058240
  
• 特開昭63-108253