低濃度における粒子サイズを測定するための方法および装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西教圭一郎 (外4名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997514172
Publication number (International publication number)：1999514437
Application date： Oct. 04, 1996
Publication date： Dec. 07, 1999
Summary：

【要約】流体中に懸濁する超微小粒子(111)の粒子サイズを測定するための改良された方法について述べられている。レーザー光(121)は粒子によって散乱し、散乱光(122)は光検出装置(131)によって受光され、該検出装置が散乱光(122)の強度を表す測定電気信号(Sm)を与える。本発明によれば、比較的低い特性周波数の信号成分が測定電気信号(Sm)から除去され、このようにして補正された測定信号(Sc)に基づいて粒子サイズが計算され、したがって粒子(111)の濃度が非常に低い場合においても信頼できる結果が得られる。

Claim (excerpt)：

流体中に懸濁している超微細粒子(111)のサイズを測定するための方法であって、測定量体は干渉性光ビームに照射され、好適にはレーザー光ビーム(121)に照射され、それによって該光は測定量体中の粒子(111)によって散乱し、あらかじめ定められた方向(α)に測定量体から散乱する測定光(122)の強度から、該強度を表す測定電気信号(Sm)が得られる方法において、該測定電気信号(Sm)から、比較的低い特性周波数の信号成分を除くことによって補正された測定電気信号(Sc)が得られ、粒子のサイズの計算が該補正された測定電気信号(Sc)に基づいて行われることを特徴とする方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開昭61-028866
特開平2-193043
特表平2-502482

Show all

Cited by examiner (6)

特開昭61-028866
特開平2-193043
特表平2-502482

Show all

Return to Previous Page