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J-GLOBAL ID：200903036589969600

試料の構成原子または分子の分析方法及びその装置

Inventor： 藤間 正博 ,  土田 一輝 ,  鈴木 一道
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996000475
Publication number (International publication number)：1997189657
Application date： Jan. 08, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】試料の構成原子または分子の評価・測定,原子または分子ビームのビーム特性評価・測定や生物の構成細胞種の評価・測定を短時間にオンラインで行い、しかも測定装置を小さく、測定部先端を動かす方法を提供する。【解決手段】レーザビームをある一方向に偏光された光のみを通過させる光学素子に入射させ、その後、光ファイバで前記レーザビームを伝搬し原子,分子の組成を知りたい部分に照射し、照射面から放出される偏光特性の持たない発光を再び同じ前記光ファイバで伝送し光学素子で反射させ分光し、この分光結果とスペクトルデータを比較または計算処理することで試料の構成原子または分子の評価・測定する。

Claim (excerpt)：

試料の構成原子または分子の評価・測定において、レーザビームをある一方向に偏光された光のみを通過させる光学素子に入射させ、その後、光ファイバで前記レーザビームを伝搬し原子,分子の組成を知りたい部分に照射し、照射面から放出される偏光特性の持たない発光を再び同じ前記光ファイバで伝送し光学素子で反射させ分光し、この分光結果とスペクトルデータを比較または計算処理することで試料の構成原子または分子の評価・測定する方法。

IPC (2)：

G01N 21/63 ,  A61B 10/00

FI (3)：

G01N 21/63 A ,  A61B 10/00 T ,  A61B 10/00 E