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J-GLOBAL ID：200903036631314643

プロセスデータ収集・監視方法及び装置

Inventor： 安藤 次男 ,  松木 勉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993225881
Publication number (International publication number)：1995084636
Application date： Sep. 10, 1993
Publication date： Mar. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】 プラントの異常・異常徴候箇所の検出、推定原因、関連パラメータを参照し、運転員の負担を軽減するプロセスデータ収集・監視方法及び装置。【構成】 データ収集・監視計算機10は、プラントの複数の機器からプロセスデータを収集し、これをデータベース部9に自動的に蓄積、保存する。データ収集・監視計算機10の演算部7は、蓄積、保存されたプロセスデータを基に、予め登録した異常及び異常徴候の演算ルールにより演算処理し、その異常状態と共に異常徴候をも含めて判定してディスプレイ装置1上に表示する(図1(c))。また、同時に、このディスプレイ装置1上には、関連パラメータや関連イベント(図1(d)と(e))、さらには、推定される原因(図1(f))も参照表示することが出来る。

Claim (excerpt)：

プラントのプロセスデータを収集し、これを蓄積、保存するプロセスデータ収集・監視方法であって、該プラントの複数の機器から入力されて蓄積、保存されたプロセスデータを、予め登録した異常及び異常徴候の演算ルールにより演算処理し、当該機器の異常状態と共に異常徴候をも含めて判定し、その判定結果を表示装置上に表示することを特徴とするプロセスデータ収集・監視方法。

IPC (2)：

G05B 23/02 301 ,  G08B 31/00