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J-GLOBAL ID：200903036657316652
放射線検出器のオフセットおよびアフタグロー補償方式
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
生沼 徳二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992309862
Publication number (International publication number)：1993237091
Application date： Nov. 19, 1992
Publication date： Sep. 17, 1993
Summary：
【要約】【目的】 コンピュータ断層撮影システムで検出器の出力信号に対するオフセットおよびアフタグロウの影響を補償する。【構成】 画像を発生するために撮像システムを使用する前に、X線源から放射線パルスを発生し、検出器の出力信号を該信号が無視し得るほどに減衰するまで周期的にサンプルする。これらのサンプルから検出器の標準の応答を定める。その後、撮像サンプルが獲得されるとき、検出器からの減衰出力信号を放射線の終了後にサンプルする。この減衰サンプルを標準の応答と比較し、この比較を定める係数が見つけ出す。この係数および標準応答データを使用して、画像サンプルに算術的に適用される補償値を導き出し、これにより補償されたサンプルを発生する。この補償されたサンプルから画像を再構成する。
Claim (excerpt)：
放射線源と、該放射線源からの放射線を検知して、この検知された放射線を表す出力信号を発生する検出器であって、出力信号が時間的に変化するオフセットによって影響され、その放射線応答特性が時間とともに減衰する検出器と、前記検出器の標準応答を定める1組の値Xi (t)を記憶する第1の手段と、前記検出器から周期的に前記出力信号のサンプルを獲得する獲得手段と、前記獲得手段から受信した所与のサンプルを処理して、放射線に対する前記検出器の標準応答を表す値から導き出した補償値を前記所与のサンプルに対して決定し、前記補償値と所与のサンプルとを算術的に組み合わせて、補償されたサンプルを発生する処理手段と、前記補償されたサンプルから画像を再構成する手段と、を有する医用撮像システム。
Patent cited by the Patent：
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