Pat
J-GLOBAL ID：200903036657344222
タイヤ状態の評価装置および評価方法
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
浅村 皓 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998504996
Publication number (International publication number)：2000514555
Application date： Jul. 03, 1997
Publication date： Oct. 31, 2000
Summary：
【要約】自動車のタイヤの状態および他の事項の評価をするための方法と装置は回転するタイヤの放射解析に基づいている。強度の検出に基づく反射された放射の解析は、溝の位置と他のデータと共に溝深さおよび側壁のプロファイルの量を提供する。溝深さ位置の位置解析によって、溝の摩耗パターンに関する補足的な情報が提供される。側壁プロファイルの決定は他のタイヤの状態のファクターの同定を可能にする。溝深さと側壁プロファイルはまた、レーザーまたは他の放射線像変位技術で決定され、装架装置はローラーベッドを使用することなく決定をなすようにする装置に対して設けられる。車輪を装置に適切に位置整合することは、装置内の反射された放射からの参照データによって決定される。タイヤの適切に規定された近接性は、装置の光学窓に位置づけられた一対の整合棒によって規定される。
Claim (excerpt)：
タイヤの状態を評価する方法であって、 (a)試験すべきタイヤを回転させるために装架する段階と、 (b)該タイヤ上へ入射放射を指向させる段階と、 (c)該タイヤから反射された放射を検出する段階と、 (d)検出された放射を処理して、タイヤの外形に関する情報を含む放射解析機能を提供する段階と、 (e)当該外形を参照することによって少なくとも一つのタイヤの状態の特性を決定する段階と、を含む方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01M 17/02 B
, G01B 11/24 A
