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J-GLOBAL ID：200903036686181138
光磁気検出器
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
田辺 恵基
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992360187
Publication number (International publication number)：1994203419
Application date： Dec. 30, 1992
Publication date： Jul. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】所定の光源から射出される射出光ビームを光磁気デイスクの記録面と平行に複合プリズムに入射すると共に、複合プリズムから射出される射出光ビームを所定の反射部材によつて反射させて光磁気デイスクに焦光する光磁気検出器において、一段と薄型化する。【構成】光源から射出された射出光ビームを、光磁気デイスクの記録面と平行な方向に射出する複合プリズムを用いることにより、当該複合プリズムを用いた光磁気検出器を一段と薄型化することができる。
Claim (excerpt)：
所定の光源から射出される射出光ビームを複合プリズムに入射すると共に、上記複合プリズムから射出される上記射出光ビームを光磁気デイスクに焦光する光磁気検出器において、上記複合プリズムに入射された上記光源からの射出光ビームを上記光磁気デイスクの記録面と平行な方向に透過又は反射させて上記複合プリズムから所定の反射板を介して上記光磁気デイスクに射出すると共に、上記光磁気デイスクからの戻り光を上記光磁気デイスクの記録面と平行な方向に反射又は透過させるビームスプリツタ膜と、上記ビームスプリツタ膜を反射又は透過した上記戻り光の偏光面を回転させる媒体と、上記媒体を透過した上記戻り光をそれぞれ異なる偏光方向でなる第1及び第2の偏光成分に分離し、上記第1の偏光成分を第1の受光素子に入射させると共に上記第2の偏光成分を透過させる偏光ビームスプリツタ膜と、上記偏光ビームスプリツタ膜を透過した上記第2の偏光成分を全反射させて第2の受光素子に入射させる全反射膜とを具えることを特徴とする光磁気検出器。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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