Pat
J-GLOBAL ID:200903036716822907

採用内定率を利用した求人システム及びその運用方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 工藤 一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004065225
Publication number (International publication number):2005258519
Application date: Mar. 09, 2004
Publication date: Sep. 22, 2005
Summary:
【課題】 求職・求人側双方にとって効果的・効率的な求職・求人活動を可能にするための求職者の評価についての客観的な計算を行う仕組みの構築が可能な求人システムを提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、求人企業が求職者に求める能力を示す情報を複数項目形式で取得する項目取得部と、求職者が項目取得部で取得した複数項目を満足する度合いを示す満足情報を項目ごとに取得する満足情報取得部と、取得された満足情報に基づいて得点を計算する得点計算部と、求職者が求人企業に応募した履歴を保持する履歴保持部と、履歴保持部に保持された応募結果と計算された得点とに基づいて得点と内定率との関係を示す内定率相関式を生成する内定率相関式生成部と、満足情報と内定率相関式とに基づいて内定率を計算する内定率計算部とを有する求人システムを提供するものである。 【選択図】図1
Claim (excerpt):
求人企業が求職者に求める能力を示す情報を複数項目形式で取得する項目取得部と、 求職者が前記項目取得部で取得した複数項目を満足する度合いを示す情報である満足情報を項目ごとに取得する満足情報取得部と、 前記満足情報取得部が取得した満足情報に基づいて得点を計算する得点計算部と、 前記求職者が前記求人企業に応募した履歴を保持する履歴保持部と、 前記履歴保持部に保持された応募結果と、前記得点計算部で計算された得点と、に基づいて、得点と内定率との関係を示す内定率相関式を生成する内定率相関式生成部と、 前記満足情報取得部にて取得された満足情報と、前記内定率相関式生成部にて生成された内定率相関式とに基づいて内定率を計算する内定率計算部と、 を有する求人システム。
IPC (1):
G06F17/60
FI (2):
G06F17/60 314 ,  G06F17/60 124
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 求人・求職支援システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-175164   Applicant:株式会社フォスターネット
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page