質量分析装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：小川勝男 , 田中恭助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003417894
Publication number (International publication number)：2005183022
Application date： Dec. 16, 2003
Publication date： Jul. 07, 2005
Summary：

【課題】広い質量数範囲を高感度かつ高質量精度で分析可能な質量分析装置を提供する。【解決手段】イオンを生成するイオン源301と、前記イオンを輸送するイオン輸送部302と、前記イオンを蓄積し、特定の質量数範囲のイオンを排出する第1のリニアトラップと、イオンを排出する出口端に端電極6を配し、前記端電極6の直流電位との相対的な直流電位勾配を変化させることにより、前記第1のリニアトラップから排出されたイオンをトラップし、繰り返しパルス状に排出する第2のリニアトラップと、前記第2のリニアトラップより排出されたイオンを直交方向へ加速し検出する飛行時間型質量分析部と、前記第1のリニアトラップから前記第2のリニアトラップへ排出されるイオンの質量数範囲に応じて、前記第2のリニアトラップからイオンが排出されるパルス時間幅またはイオン排出終了から前記飛行時間型質量分析部の加速電圧が印加されるまでの遅延時間幅を変化させる制御部101とを具備することを特徴とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

イオンを生成するイオン源と、前記イオンを輸送するイオン輸送部と、前記イオンを蓄積し、特定の質量数範囲のイオンを排出する第1のリニアトラップと、イオンを排出する出口端に端電極を配し、前記端電極の直流電位との相対的な直流電位勾配を変化させることにより、前記第1のリニアトラップから排出されたイオンをトラップし、繰り返しパルス状に排出する第2のリニアトラップと、前記第2のリニアトラップより排出されたイオンを直交方向へ加速し検出する飛行時間型質量分析部と、前記第1のリニアトラップから前記第2のリニアトラップへ排出されるイオンの質量数範囲に応じて、前記第2のリニアトラップからイオンが排出されるパルス時間幅またはイオン排出終了から前記飛行時間型質量分析部の加速電圧が印加されるまでの遅延時間幅を変化させる制御部とを具備することを特徴とする質量分析装置。

IPC (2)：

H01J49/40 , G01N27/62

FI (3)：

H01J49/40 , G01N27/62 K , G01N27/62 L

F-Term (3)：

5C038JJ02 , 5C038JJ06 , 5C038JJ07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

米国特許第5,689,111号
米国特許第6,507,019号
米国特許第5,783,824号

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