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J-GLOBAL ID：200903036813793610

電圧測定プローブ

Inventor： 宮本 晶規 ,  若菜 伸一
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 平戸 哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997346937
Publication number (International publication number)：1999183573
Application date： Dec. 17, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】電気光学効果を利用して電気信号の電圧測定を行う電圧測定装置の一部分を構成する電圧測定プローブに関し、探針の交換を容易に行うことができ、かつ、高速電気信号の電圧測定を高精度で行うことができるようにする。【解決手段】電気光学素子11の上面に磁石12を固定し、探針13を電気光学素子11の下面に磁石12の磁力により交換可能に吸着固定させる。

Claim (excerpt)：

電気光学素子と、前記電気光学素子の一面側に配置された磁石とを有し、探針を前記電気光学素子の前記磁石が配置された側と対向する面に前記磁石の磁力により交換可能に吸着固定させることを特徴とする電圧測定プローブ。

IPC (3)：

G01R 31/302 ,  G01R 1/06 ,  G01R 15/24

FI (3)：

G01R 31/28 L ,  G01R 1/06 F ,  G01R 15/07 C