Pat
J-GLOBAL ID:200903036820298853
ポジ型レジスト組成物
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 濱田 百合子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003014971
Publication number (International publication number):2004226728
Application date: Jan. 23, 2003
Publication date: Aug. 12, 2004
Summary:
【課題】160nm以下、特にF2エキシマレーザー光(157nm)の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、具体的には157nmの光源使用時に十分な透過性を示し、アルカリ現像液親和性、ラインエッジラフネスの諸特性に優れたポジ型レジスト組成物を提供する。【解決手段】(A)特定構造の繰り返し単位を有する、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂及び(B)活性光線又は放射線の作用により酸を発生する化合物を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
(A)下記一般式(I)で表される繰り返し単位を有する、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂及び
(B)活性光線又は放射線の作用により酸を発生する化合物
を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
IPC (3):
G03F7/039
, C08F16/24
, H01L21/027
FI (3):
G03F7/039 601
, C08F16/24
, H01L21/30 502R
F-Term (36):
2H025AA03
, 2H025AA04
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BE10
, 2H025BG00
, 2H025CB08
, 2H025CB41
, 2H025CB45
, 2H025FA17
, 4J100AE38P
, 4J100AL03Q
, 4J100AL08Q
, 4J100AR11Q
, 4J100BA02P
, 4J100BA02Q
, 4J100BA03P
, 4J100BA10P
, 4J100BA20Q
, 4J100BB07Q
, 4J100BB18Q
, 4J100BC04P
, 4J100BC04Q
, 4J100BC08P
, 4J100BC09P
, 4J100BC09Q
, 4J100BC43P
, 4J100BC53Q
, 4J100CA04
, 4J100DA01
, 4J100FA03
, 4J100FA19
, 4J100JA38
Return to Previous Page