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J-GLOBAL ID：200903037063922400

ヘイルインパクト試験装置および方法

Inventor： 長尾 吉孝 ,  福岡 貴裕
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (2)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003206515
Publication number (International publication number)：2005055216
Application date： Aug. 07, 2003
Publication date： Mar. 03, 2005
Summary：

【課題】ヘイルインパクト試験を簡便な装置、手順で行うことができ、安定した速度で、無駄を大幅に少なくする。【解決手段】気体の圧力により発射筒より氷球を発射するヘイルインパクト試験装置において、前記発射筒は水平面と仰角をもって位置しており、氷球の発射口は発射筒上方先端に設けられ、発射筒の下方に気体導入管を設け、発射筒の内径は氷球小さい事を特徴とする。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

気体の圧力により発射筒より氷球を発射するヘイルインパクト試験装置において、前記発射筒は水平面と仰角をもって位置しており、氷球の発射口は発射筒上方先端に設けられ、発射筒の下方に気体導入管を設けたことを特徴とするヘイルインパクト試験装置。

IPC (3)：

G01N3/30 ,  G01M7/08 ,  H01L31/04

FI (3)：

G01N3/30 Z ,  G01M7/00 H ,  H01L31/04 K

F-Term (8)：

2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061BA20 ,  2G061CB16 ,  2G061DA01 ,  2G061EA10 ,  5F051BA11 ,  5F051KA10