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J-GLOBAL ID：200903037064305871

周波数分析装置

Inventor： クラウス ダンツアイゼン
Applicant, Patent owner： ローデ ウント シユバルツ ゲーエムベーハー ウント コンパニー カーゲー
Agent (1)： 東島 隆治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991303734
Publication number (International publication number)：1993215794
Application date： Sep. 04, 1991
Publication date： Aug. 24, 1993
Summary：

【要約】【目的】 周波数選択測定及び周波数パラメーター表示のための周波数分析装置であって、例えば1MHzから4000MHzまでの間の、対象とする全周波数範囲にわたる周波数の諸段階において同調ができてそれにより測定された試験パラメータを表示ユニット上にグラフで表示できるものを提供すること。【構成】 全周波数範囲を複数の独立に選択できる下位範囲に分割し、各下位範囲に対し周波数の段階の数と分布の両者を、他の下位範囲の周波数段階の数及び分布に無関係に選択でき、また各下位範囲に対し、試験パラメータの表示のメモリを、他の下位範囲の目盛に無関係に選択するように構成した。

Claim (excerpt)：

周波数選択測定および周波数依存測定パラメータの表示のための測定装置を備え、上記測定装置は、対象とする全周波数範囲にわたる周波数の諸段階で同調するようになされ、上記装置により検出された測定パラメータがグラフで表示されるようにした周波数分析装置において、全周波数範囲は、複数の独立に選択できる下位範囲に分割され、それぞれの下位範囲のための周波数段階の数と周波数分布は他の下位範囲の周波数段階の数と周波数分布とは無関係に選択され、またそれぞれの下位範囲のために表示された測定パラメータの目盛は他の下位範囲の目盛と無関係に選択されるようにした、周波数分析装置。