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J-GLOBAL ID：200903037070364839

形状特徴計測装置および方法

Inventor： 岩崎 圭介
Applicant, Patent owner： 株式会社エイ・ティ・アール通信システム研究所
Agent (1)： 深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995002571
Publication number (International publication number)：1996189819
Application date： Jan. 11, 1995
Publication date： Jul. 23, 1996
Summary：

【要約】【目的】 特徴量として微分幾何学的量を用いることなく、限られた条件下でなく、ユークリッド空間に存在する対象物体の形状特徴を抽出して計測できる形状特徴計測装置を提供する。【構成】 形状特徴計測装置51は、入力された形状データ59を基に、面素演算部53が各距離座標格子点での面素を演算し、点間距離演算部55が予め規定された基点P0 と各距離座標格子点との間の点間距離を演算し、フィルタリング部57が演算された距離に重み付けを行なってさらに面素、X座標値、Y座標値およびZ座標値の和である特徴量A,X,Y,Zを演算して、平均化されたフィルタリング結果である結果座標FX,FY,FZを演算してフィルタリングする。得られたフィルタリング結果61は、入力形状データ59での形状特徴としての凹凸の度合を示すこととなる。

Claim (excerpt)：

n次元ユークリッド空間に存在するm(n≧m)次元対象物体の形状特徴を抽出して計測する形状特徴計測装置であって、前記m次元対象物体の外形の複数の点を含む一部分を規定するための要素を演算する要素演算手段と、予め定められた基点と前記一部分に含まれる各点との間の点間距離を演算する点間距離演算手段と、前記演算された前記基点と前記一部分に含まれる各点との間の点間距離に重み付けを行ない、前記演算された要素および前記重み付けられた点間距離を用いて前記複数の点の座標を平均化してフィルタリングするフィルタリング手段とを備えた、形状特徴計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00