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J-GLOBAL ID：200903037203407471

分子シミュレ-ション法と均質化法の結合解析による材料及び構造物の設計手法

Inventor： 中野 政詩 ,  河村 雄行 ,  市川 康明
Applicant, Patent owner： 株式会社・イー・アール・シー・
Agent (1)： 松波 祥文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997207596
Publication number (International publication number)：1999053414
Application date： Aug. 01, 1997
Publication date： Feb. 26, 1999
Summary：

【要約】【目的】 ミクロ非均質材料及びその材料から造られた構造物の挙動を適切に評価し、構造物を合理的且つ経済的に設計すること。【構成】 ミクロ非均質材料およびその材料から造られた構造物を対象に、単一ミクロ構造体を構成する各々の材料に分子シミュレーション法を適用してその物質系のもつ種々の物理化学的性質(結晶構造特性、密度や材料力学特性等の物性、熱力学的性質、他)を求め、得られた各々の材料の物理化学的性質を均質化法に適用してミクロ非均質材料の特性を決定すると共に、ミクロ非均質材料から造られた構造物の挙動を解析して設計に供する。また、均質化法により場の量(応力、温度等)の変化が求められ、分子シミュレーション法の環境条件が変化した場合には再度分子シミュレーション解析とそれに続く均質化解析を実施する。

Claim (excerpt)：

ミクロレベルで多種類の物質が混在するミクロ非均質材料からなる物体について適用されるものであって、以下の(A)〜(D)の処理、(A)ミクロ非均質材料からなる物体を所定の座標系に基づいてミクロ構造体を形成する各物質系、すなわち、ミクロ成分系に区分し、各ミクロ成分系の物理化学的性質を分子シミュレーション法によって所定の物性値として求める。(B)分子シミュレーション法によって得られた前記ミクロ成分系の物性値を均質化法に導入し、前記物体に生じる変位、温度、応力等の場の量を算出する。(C)均質化解析によって得られた前記物体の場の量を所定の基準値と比較することで、前記物体に破壊等の問題が生じるか否かを予測する。(D)前記物体に破壊等の問題の発生が予測される場合、前記物体の材料または構造を変更し、前記(A)〜(C)の処理を繰り返す。を実施することを特徴とする分子シミュレ-ション法と均質化法の結合解析による材料及び構造物の設計手法。

IPC (2)：

G06F 17/50 ,  F16S 5/00

FI (4)：

G06F 15/60 604 A ,  F16S 5/00 ,  G06F 15/60 638 ,  G06F 15/60 680 B