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J-GLOBAL ID：200903037419294566
気体中の粒状物質測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998050169
Publication number (International publication number)：1999230888
Application date： Feb. 16, 1998
Publication date： Aug. 27, 1999
Summary：
【要約】【課題】 時間と共に変化する粒状物質の濃度を測定することが可能で、かつ捕集した粒状物質の質量を正確に測定でき、さらに捕集した粒状物質を化学分析や電子顕微鏡観察などに適する形で提供することが可能な気体中の粒状物質測定装置を提供する。【解決手段】 気体中の粒状物質測定装置は一定流量に制御され、粒状物質を含む気体が通過する導管101と、前記導管中に着脱自在に設けられ、厚さ5μm以上15μm以下の金属板に平均直径2μmから10μmの多数の孔をほぼ一定なピッチで多数形成したフィルタ106と、このフィルタ106の前後の圧力差を測定する圧力差測定手段117と、この圧力差測定手段で検出された圧力差の変化の微分値を求める微分演算手段119とを備える。この測定装置では、金属フィルタ106を用いることによりその前後の差圧を容易に求めることができ、差圧の微分により気体中の粒状物質の濃度を容易に得ることができる他、このフィルタ106は着脱自在になっており、正確な重量測定や分析や観察にも有利である。
Claim (excerpt)：
一定流量に制御され、粒状物質を含む気体が通過する導管と、前記導管中に着脱自在に設けられ、厚さ5μm以上15μm以下の金属板に平均直径2μmから10μmの多数の孔をほぼ一定なピッチで多数形成したフィルタと、前記フィルタの前後の圧力差を測定する圧力差測定手段と、前記圧力差測定手段で検出された圧力差の変化の微分値を求める微分演算手段とを備えた気体中の粒状物質測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 15/06 D
, G01N 9/26 A
