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J-GLOBAL ID：200903037450961449

信号期間検出回路及び信号期間検出回路を有する非接触型外径測定装置

Inventor： 坂尾 博章
Applicant, Patent owner： 株式会社東京精密
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994137033
Publication number (International publication number)：1996005336
Application date： Jun. 20, 1994
Publication date： Jan. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 カウンタでクロック信号を計数することで信号がある状態にある期間を測定する回路において、クロック信号の周波数を増加させずに測定分解能を向上させることを目的とする。【構成】 クロック信号発生手段11と、対象信号が一方の状態に変化してから再びもう一方の状態に戻るまでの期間のみクロック信号を通過させるクロック通過制御手段13と、クロック通過制御手段を通過したクロック信号を計数する主計数手段18と、対象信号を1つ以上の段階で遅延させる遅延手段12と、遅延された各対象信号が一方の状態に変化してから再びもう一方の状態に戻るまでの期間のみクロック信号を通過させる副クロック通過制御手段14〜17と、副クロック通過制御手段を通過した各クロック信号を計数する副計数手段19〜22と、各計数結果を平均化する平均手段23とを有する。

Claim (excerpt)：

クロック信号を発生するクロック信号発生手段(11)と、対象信号が一方の状態に変化してから再びもう一方の状態に戻るまでの期間のみ前記クロック信号を通過させるクロック通過制御手段(13)と、該クロック通過制御手段を通過したクロック信号を計数する主計数手段(18)とを備え、対象信号が一方の状態に変化してから再びもう一方に状態に戻るまでの期間を検出する信号期間検出回路において、前記対象信号を1つ以上の段階で遅延させ、前記対象信号と遅延された各対象信号の一方の状態からもう一方の状態への変化が前記クロック信号の1周期以下の範囲内で略等間隔になるように遅延させる遅延手段(12)と、前記遅延された各対象信号が一方の状態に変化してから再びもう一方の状態に戻るまでの期間のみ前記クロック信号をそれぞれ通過させる副クロック通過制御手段(14〜17)と、該副クロック通過制御手段を通過した各クロック信号を計数する副計数手段(19〜22)と、前記主計数手段の計数結果及び前記副計数手段の各計数結果を平均化する平均手段(23)とを備えることを特徴とする信号期間検出回路。

IPC (2)：

G01B 11/02 ,  H03K 21/02