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J-GLOBAL ID:200903037515930279

有機電子デバイスにおける欠陥の影響を軽減する電極

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 松本 研一 ,  小倉 博 ,  伊藤 信和
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003333735
Publication number (International publication number):2004273420
Application date: Sep. 25, 2003
Publication date: Sep. 30, 2004
Summary:
【課題】 活性有機層と、電子デバイスの構成により生じる欠陥の悪影響を軽減する構造を有する電子デバイスを提供する。【解決手段】 有機電子デバイス(10)のための複合電極(40)は、第1導電性材料の薄い第1層(42)と、該第1層上に配設された第2導電性材料からなる。一実施形態において、第2導電性材料は、複数の細長い部材(44)に形成される。別の実施形態においては、第2材料は、第2層(46)に形成される。細長い部材又は第2層は、第1層の厚さよりも大きい厚さを有する。第2層は、少なくとも第1層の材料よりも小さい導電率を有する導電性材料によって、第1層から分離される。複合電極は、有機電子デバイスの構造における短絡のような欠陥の悪影響を軽減することができ、発光デバイス又は光起電デバイス中に含むことができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
第1導電性材料の第1層(42)と、前記第1層(42)と電気接触関係にある複数の細長い部材(44)と、からなる複合電極(40)であって、前記細長い部材(44)が第2導電性材料からなることを特徴とする複合電極(40)。
IPC (3):
H05B33/26 ,  H05B33/10 ,  H05B33/14
FI (3):
H05B33/26 Z ,  H05B33/10 ,  H05B33/14 A
F-Term (5):
3K007AB18 ,  3K007CC00 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  3K007FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 米国特許第5,294,870号公報
Cited by examiner (8)
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