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J-GLOBAL ID：200903037544361178

非接触ICカードの引き抜き検査方法およびICカード

Inventor： ▲つる▼ 浩二 ,  村田 幸嗣 ,  中野 貞彦 ,  大谷 佳光
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 金田 暢之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001119863
Publication number (International publication number)：2002312729
Application date： Apr. 18, 2001
Publication date： Oct. 25, 2002
Summary：

【要約】【課題】 非接触ICカードの引き抜きを検出する。【解決手段】 カードの引き抜きがあり、リーダ・ライタのカード存在確認コマンドに対して、定められたタイムアウト時間内にカードのレスポンスが得られない、または、途中で引き抜かれたために、レスポンスが不完全な異常レスポンスになった場合は、リーダ・ライタは、ICカードが引き抜かれたと判断し、上位側に、ICカードの引き抜きを検出したことを伝える。

Claim (excerpt)：

リーダ・ライタから非接触ICカードに対して、カード存在確認のためのカード存在確認コマンドを必要時に、または定期的に送信し、そのレスポンスによって非接触ICカードが通信エリア内にまだ存在しているか、通信エリア外に出たかというカードの存在の有無を確認する、非接触ICカードの引き抜き検出方法。

IPC (3)：

G06K 17/00 ,  B42D 15/10 521 ,  G06K 19/07

FI (5)：

G06K 17/00 F ,  G06K 17/00 D ,  B42D 15/10 521 ,  G06K 19/00 H ,  G06K 19/00 N

F-Term (12)：

2C005MA22 ,  2C005NA06 ,  2C005SA26 ,  2C005SA30 ,  2C005TA19 ,  2C005TA22 ,  5B035BB09 ,  5B035CA23 ,  5B035CA29 ,  5B058CA15 ,  5B058CA23 ,  5B058KA13