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J-GLOBAL ID：200903037552740510

反射特性測定装置

Inventor： 瀧上 善雅 ,  西本 功
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 小谷 悦司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000073311
Publication number (International publication number)：2001264174
Application date： Mar. 16, 2000
Publication date： Sep. 26, 2001
Summary：

【要約】【課題】 測定モードを切り替えることにより、測定時間の短縮を図ることを可能にする。【解決手段】 取付検出スイッチ74がオンになると、CPU55により、分光測色計1が走査装置100に取り付けられたと判別され、連続測定モードに設定され、光源11の点灯前に消灯時における検出部40からの受光信号がオフセット値としてRAM58に格納され、光源11を点灯させたまま測定試料上の複数の測定箇所の測定が連続的に行われる。一方、取付検出スイッチ74がオフのときは、CPU55により、分光測色計1がスタンドアロンと判別され、光源11の点灯および消灯が測定ごとに繰り返される間欠測定モードに設定される。

Claim (excerpt)：

測定試料を照明する照明手段と、光を受光して光強度に応じた受光信号を出力する受光手段と、光が入射しない状態で上記受光手段から出力される受光信号をオフセット値として記憶する記憶手段と、上記照明手段により照明された上記測定試料からの反射光を受光して上記受光手段から出力される受光信号と上記記憶手段に記憶されているオフセット値とを用いて上記測定試料の反射特性を求める演算処理手段と、を備えた反射特性測定装置において、測定試料ごとに上記オフセット値を求め、このオフセット値を用いて当該測定試料の反射特性を測定する間欠測定モードと、測定前および測定後の少なくとも一方の時点で上記オフセット値を求めて上記記憶手段に記憶し、このオフセット値を共用して複数の測定試料の反射特性を連続的に測定する連続測定モードとを切替設定するモード設定手段と、このモード設定手段により設定された測定モードで上記測定試料の反射特性の測定を行う測定制御手段と、を備えたことを特徴とする反射特性測定装置。

IPC (3)：

G01J 3/50 ,  G01J 3/18 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01J 3/50 ,  G01J 3/18 ,  G01N 21/27 B

F-Term (35)：

2G020AA04 ,  2G020AA08 ,  2G020BA20 ,  2G020CB25 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD12 ,  2G020CD24 ,  2G020CD34 ,  2G020CD36 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G020CD53 ,  2G020DA05 ,  2G020DA12 ,  2G020DA43 ,  2G020DA65 ,  2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04