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J-GLOBAL ID：200903037713534940
炭素材料の解析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
椎名 正利
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997352112
Publication number (International publication number)：1999166894
Application date： Dec. 05, 1997
Publication date： Jun. 22, 1999
Summary：
【要約】【課題】 アモルファス相と結晶相とが混在する炭素材料について精度の高い構造解析や材料の差別化が行える炭素材料の解析方法を提供する。【解決手段】 炭素材料のラマン分光法による解析手法において、そのラマンスペクトルが、炭素材料中に含まれる結晶相のG-bandとD-band、およびアモルファス相のG-bandとD-bandに由来する合計4本のピークから構成されると解釈し、4本のガウス関数を用いてカーブフィッティングする。
Claim (excerpt)：
炭素材料をラマン分光法を用いて解析する方法であって、前記炭素材料のラマンスペクトルが、アモルファス相に由来するG-bandのピーク、結晶相に由来するG-bandのピーク、アモルファス相に由来するD-bandのピーク及び結晶相に由来するD-bandのピークから構成されると解し、前記各ピークをガウス関数を用いて波形近似し、予め取得若しくは定義した各種炭素材料の前記各相に由来する前記各bandの波形の形状、波形のピーク位置、波形ピーク値、波形幅のいずれか少なくとも一つを含むパラメータを基に前記炭素材料の性能判別を行うことを特徴とする炭素材料の解析方法。
IPC (2)：
FI (2)：
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