ドットパターンの検出および評価装置および方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：富村潔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996355984
Publication number (International publication number)：1997270012
Application date： Dec. 25, 1996
Publication date： Oct. 14, 1997
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】半導体メモリチップの故障パターンのようにドットの数が多い場合でも確実に解析しパターンに分類する。【解決手段】計算機で記憶されたドットパターンのデータから、座標軸の各座標値に対する座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256が決定され、座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256の値が検出されたドットの数から形成され、対応付けられているニューロン回路網に対し、座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256から形成された成分を有するの入力ベクトルが入力され、ニューロン回路網が入力ベクトルと例ドットパターンに基づく設定ベクトルとの比較により出力ベクトルを計算し、求められた出力ベクトルを用いてドットパターンの分類値を出力する。

Claim (excerpt)：

多次元座標系に配置された空間的に離散的なドットパターンであって、パターンの各ドットが少なくとも2つの識別可能な状態値をとるドットパターンを検出かつ評価するための装置において、多次元の空間的なドットパターンの各ドットの座標値および状態値を記録するための測定装置(1、2、3、5、6)と、多次元の空間的なドットパターンの各ドットの座標値および状態値に相応するデータを記憶するためのメモリ(7)と、メモリ(7)に対応付けられている計算機(6、10)とを含んでおり、この計算機に記憶されたデータが入力され、またこの計算機で記憶されたデータから座標軸の各座標値に対する座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)が決定され、その際に座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)の値が予め定められた状態値を有するこの座標の検出されたドットの数から形成され、また計算機(6、10)に対応付けられているニューロン回路網(NN1、NN2、NN3)を含んでおり、前記ニューロン回路網に空間的に離散的なドットパターンの各ドットの計算された座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)から形成された成分(E1〜E7)を有するn次元の入力ベクトルが入力され、前記ニューロン回路網が測定されたドットパターンの計算された入力ベクトルと例ドットパターンに基づいて得られた記憶された設定ベクトルとの比較により出力ベクトルを計算し、また求められた出力ベクトルを用いて測定されたドットパターンの分類値を対応付けかつ出力することを特徴とするドットパターンの検出および評価装置。

IPC (6)：

G06T 7/00 , G01R 31/28 , G06F 11/22 350 , G06F 15/18 560 , G11C 29/00 303 , G11C 29/00

FI (8)：

G06F 15/70 465 A , G06F 11/22 350 Z , G06F 15/18 560 C , G11C 29/00 303 C , G11C 29/00 303 Z , G01R 31/28 M , G01R 31/28 B , G06F 15/62 405 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

パターン認識装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-165298 Applicant：株式会社神戸製鋼所

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