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J-GLOBAL ID：200903037787701791
浸透法・磁粉法併用探傷方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
三原 隆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992306614
Publication number (International publication number)：1994129997
Application date： Oct. 19, 1992
Publication date： May. 13, 1994
Summary：
【要約】【目的】 非破壊検査において浸透法により検出できる傷と磁粉法により検出できる傷を1回の検査で検出する。【構成】 被検査物に浸透液を塗布してこの浸透液が傷部に浸透した後この被検査物の磁化と磁粉液の塗布を行って、傷部に発生する漏洩磁束により磁粉を傷部に磁着させるとともに、この磁粉液の塗布により傷部以外の場所に付着した浸透液の洗浄を行い、乾燥させた後浸透液が浸透した傷と磁粉が磁着した傷を同時に検査する浸透法・磁粉法併用探傷方法である。
Claim (excerpt)：
被検査物に浸透液を塗布して余剰浸透液を自然滴下により除去しつつ浸透液が傷部に浸透するに必要な時間を経過した後、上記被検査物に磁粉液の塗布と磁化を行って傷部に磁粉を磁着させるとともに、上記磁粉液の塗布により傷部以外の場所に付着した浸透液の洗浄を行い、乾燥させた後浸透液が浸透した傷と磁粉が磁着した傷を同時に検査することを特徴とする浸透法・磁粉法併用探傷方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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