Pat

J-GLOBAL ID：200903037857890961

液晶パネル画質検査装置

Inventor： 西井 清司
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993329982
Publication number (International publication number)：1995151641
Application date： Dec. 01, 1993
Publication date： Jun. 16, 1995
Summary：

【要約】【目的】 LCDパネルの画像データを高分解能で取り込みながら、元の各1画素の情報を損なうことなく画像データ圧縮をおこない、これによりコストダウンをし、また、LCD1画素が2つのブロックにまたがってデータ格納される場合に、正しく画像圧縮処理を行う、液晶パネル画質検査装置を提供する。【構成】 A/D変換された入力信号を、任意の量ずつ時間分割するブロック・サイズ・レジスタ20を設ける。そして、当該設定に基づいて動作する画像データ切換用カウンタ18を設ける。そして、入力バッファメモリ(12、13)を複数設ける。そして、当該画像データを逐次画像圧縮処理するDSP11を設ける。また、当該入力バッファメモリに入力するLCD画像データは、2ブロック分を入力するような、アドレスマルチプレクサを設ける。

Claim (excerpt)：

液晶パネル(1)の画質検査をおこなう装置において、ラインセンサ(2)からのA/D変換された入力信号を、任意の量ずつ時間分割するブロック・サイズ・レジスタ(20)を設け、当該ブロック・サイズ・レジスタ(20)の設定に基づいて動作するLCD画像データ切換用カウンタ(18)を設け、LCD画像データの入力バッファメモリ(12、13)を複数設け、当該画像データを逐次画像圧縮処理するDSP(11)を設け、以上の構成より、画像データを取り込みながら、画像圧縮を行うリアルタイム画像圧縮回路を有することを特徴とする、液晶パネル画質検査装置。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101