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J-GLOBAL ID：200903037886835260

超音波検査装置

Inventor： 須藤 晃司 ,  田中 洋次 ,  片岡 康男
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 高田 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993220069
Publication number (International publication number)：1995071948
Application date： Sep. 03, 1993
Publication date： Mar. 17, 1995
Summary：

【要約】【目的】 薄板の厚みや重ね合わせ接合部の厚さ及び幅に対して、高精度且つ安定した計測を可能とすることを目的としている。【構成】 送信専用広帯域探触子1と試験体表面Aに対する垂線に対して、線対称に配置した受信専用広帯域探触子2は、固定治具3により、試験体表面Aから離すとともに試験体表面Aに対して所定の角度で固定され、接触媒質ノズル8を介して試験体10と接触媒質7で音響結合している。また、超音波の伝搬経路11で且つA面上にある接触媒質7による感度低下を防ぐため、エアーノズル12よりエアー9を噴出させる。受信専用広帯域探触子2で受信された試験体10からの超音波は送受信機4、A/D変換器5を介して、FET部6に入力されて周波数が算出される。

Claim (excerpt)：

厚さの薄い試験体中に板波を伝播させて厚さを計測する超音波検査装置において、送信専用の広帯域探触子と、上記送信専用の広帯域探触子と試験体表面に対する垂線に対して線対称に配置した受信専用の広帯域探触子と、上記送受信それぞれの探触子を試験体表面から離すと共に試験体表面に対して所定の角度で固定する治具と、上記探触子のドライブ及び超音波信号を受信増幅する送受信機と、上記受信したアナログ波形の特定波形を抽出してデジタル値に変換するA/D変換器と、上記デジタル変換された波形をフーリエ変換して周波数を算出するFET(Fast Fourier Transform)部とを備えたことを特徴とする超音波検査装置。