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J-GLOBAL ID：200903037903608427

三次元形状測定装置

Inventor： 窪寺 謙之
Applicant, Patent owner： 株式会社クボテック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993138856
Publication number (International publication number)：1994317410
Application date： Apr. 30, 1993
Publication date： Nov. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被測定物の三次元形状を高速で、非接触で測定する。【構成】 レーザー発光器から発射されたレーザー光を直交する2つの軸のそれぞれを中心として回転する2ケの多面体ミラーで反射し被測定物に照射スキャニングし、その各多面体ミラーの回転角を検出する手段を備え、被測定物から反射して返って来る光をレンズ系を通して感光素子に受光し、その感光素子の受光位置から、被測定物のレザー照射点の三次元位置を算出し、これら三次元位置データから被測定物の三次元形状を測定する装置。

Claim (excerpt)：

レーザー発光器から発射されたレーザー光を直交する2つの軸のそれぞれを中心として回転する2ケの多面体ミラーで反射し被測定物に照射スキャニングし、その各多面体ミラーの回転角を検出する手段を備え、被測定物から反射して返って来る光をレンズ系を通して感光素子に受光し、その感光素子の受光位置から、被測定物のレーザー照射点の三次元位置を算出し、これら三次元位置データから被測定物の三次元形状を測定する装置。