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J-GLOBAL ID:200903037944018146
脳機能解析装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
鹿島 義雄
, 甲斐 寛人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007191070
Publication number (International publication number):2009022660
Application date: Jul. 23, 2007
Publication date: Feb. 05, 2009
Summary:
【課題】 TMSにより脳刺激を与えるとともに、同時に脳機能の変化を検査することができ、また、時間的に変動する脳活動に追従して最善の磁気刺激部位や磁気刺激時期を決めることができる脳機能解析装置を提供する。【解決手段】 fNIRS(近赤外分光法)により脳機能測定を行う脳機能計測部11と、TMS(経頭蓋磁気刺激)を与える脳刺激部12と、fNIRSによる脳機能測定とTMSによる脳刺激とを並行して行う制御部10とを備え、TMSによる脳刺激を加える位置やタイミングをfNIRSにより特定し、または、TMSにより脳刺激が加えられた位置をfNIRSにより特定することで正確な位置をモニタしながら脳機能を計測する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
fNIRS(近赤外分光法)により脳機能測定を行う脳機能計測部と、TMS(経頭蓋磁気刺激)を与える脳刺激部と、fNIRSによる脳機能測定とTMSによる脳刺激とを並行して行う制御部とを備え、TMSによる脳刺激を加える位置やタイミングをfNIRSにより特定し、または、TMSにより脳刺激が加えられた位置をfNIRSにより特定することを特徴とする脳機能解析装置。
IPC (2):
FI (2):
A61B5/14 322
, A61B10/00 E
F-Term (4):
4C038KK01
, 4C038KL05
, 4C038KL07
, 4C038KX01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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機能的近赤外分光装置の信号解析方法及び信号解析装置、機能的近赤外分光装置並びに信号解析プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-244370
Applicant:学校法人日本大学
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近赤外線分光測光検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-259292
Applicant:キャスメディカルシステムズ,インコーポレイテッド
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磁場発生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-080173
Applicant:国立大学法人東北大学, 日本素材株式会社, 株式会社マテリアル仙台
Cited by examiner (1)
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