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J-GLOBAL ID：200903038094661660

保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法

Inventor：
鈴木 孝志

About 鈴木 孝志

, 
篠塚 淳彦

About 篠塚 淳彦


Applicant, Patent owner：
住友化学工業株式会社

About 住友化学工業株式会社


Agent (3)： 久保山 隆 ,  中山 亨 ,  榎本 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002364771
Publication number (International publication number)：2004198163
Application date： Dec. 17, 2002
Publication date： Jul. 15, 2004
Summary：
【課題】欠陥が保護フィルムの欠陥であるかどうかを容易に判定することができる保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法を提供する。【解決手段】偏光板の両面に保護フィルムを粘着している保護フィルム粘着偏光板および検査用偏光板を光源とカメラの間にクロスニコルに配置し、カメラで撮影して得られる暗い画像中の明るい部分の有無によって保護フィルム粘着偏光板の欠陥を検査する方法において、暗い画像中に周期的または連続的に検出される明るい部分は保護フィルムの欠陥によるものと判定することを特徴とする保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
偏光板の両面に保護フィルムを粘着している保護フィルム粘着偏光板および検査用偏光板を光源とカメラの間にクロスニコルに配置し、カメラで撮影して得られる暗い画像中の明るい部分の有無によって保護フィルム粘着偏光板の欠陥を検査する方法において、暗い画像中に周期的または連続的に検出される明るい部分は保護フィルムの欠陥によるものであると判定することを特徴とする保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法。
IPC (6)：
G01N21/958 ,  G01M11/00 ,  G01N21/88 ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1335
FI (6)：
G01N21/958 ,  G01M11/00 T ,  G01N21/88 H ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1335 510
F-Term (24)：
2G051AA73 ,  2G051AB01 ,  2G051BA11 ,  2G051CA03 ,  2G051CB02 ,  2G051CC20 ,  2G086EE09 ,  2H049BA02 ,  2H049BB16 ,  2H049BB62 ,  2H049BC01 ,  2H049BC22 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FA41Z ,  2H091FC29 ,  2H091FC30 ,  2H091GA16 ,  2H091LA30
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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