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J-GLOBAL ID：200903038099089965

非線形超音波を用いた内部微視亀裂検出方法及び装置

Inventor：
川嶋 紘一郎

About 川嶋 紘一郎


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 長瀬 成城
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000120595
Publication number (International publication number)：2001305109
Application date： Apr. 21, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：
【要約】【課題】 固体内部及び界面に存在する微視剥離、亀裂などの開口量と同程度の入射振幅の超音波を用いてそれら界面の接合強度、健全性を非破壊的に評価する非線形超音波を用いた内部微視亀裂検出方法を提供する。【解決手段】 固体接合面にバースト超音波を垂直あるいは斜めに入射し、界面を透過した波または反射した波の波形をデジタル収録し、入射波波形に対する透過または反射波波形のひずみ及びそれに伴う高調波振幅をデジタル的に検出することにより物体内部に存在する内部微視亀裂を検出することを特徴とする非線形超音波を用いた内部微視亀裂検出方法。
Claim (excerpt)：
固体接合面にバースト超音波を垂直あるいは斜めに入射し、界面を透過した波または反射した波の波形をデジタル収録し、入射波波形に対する透過または反射波波形のひずみ及びそれに伴う高調波振幅をデジタル的に検出することにより物体内部に存在する内部微視亀裂を検出することを特徴とする非線形超音波を用いた内部微視亀裂検出方法。
IPC (2)：
G01N 29/08 ,  G01N 29/10
FI (2)：
G01N 29/08 ,  G01N 29/10
F-Term (10)：
2G047AA05 ,  2G047AB05 ,  2G047BA02 ,  2G047BA03 ,  2G047BC04 ,  2G047BC09 ,  2G047CB01 ,  2G047CB02 ,  2G047EA10 ,  2G047GG12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-099396   Applicant：株式会社東芝
  • 特開平2-134146
  • 特開平2-134146
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