Pat

J-GLOBAL ID：200903038101815997

自己校正型コンビュータ断層撮影イメージングシステム

Inventor： シエー,ジャン
Applicant, Patent owner： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
Agent (1)： 生沼 徳二
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995518086
Publication number (International publication number)：1996507248
Application date： Dec. 15, 1994
Publication date： Aug. 06, 1996
Summary：

【要約】イメージングすべき患者のX線減衰量測定値の獲得の間、測定値を処理して、システムの各検出器に対するエラー係数を決定する。その際、患者のスキャンの間に獲得されたX線減衰量測定値から各検出器に対する平均値が計算される。1組の平均値は中心の検出器に対する平均値に向かって単調に増大するとともに該平均値から離れるにつれて単調に低減する。このような単調な変化からの偏差は校正エラーを示し、対応する検出器に対する信号処理回路の校正係数を変更するために使用される。

Claim (excerpt)：

コンピュータ断層撮影イメージングシステムにおいてX線検出器アレイからの信号を処理する信号処理回路を校正する方法であって、 イメージングすべき患者についての複数のビューの各々の間においてX線検出器アレイの各検出器からX線減衰量データサンプルを獲得することにより、各検出器に対する複数のX線減衰量データサンプルを作成するステップ、 各検出器に対する複数のX線減衰量データサンプルの平均値を導き出すことにより、tが所与の検出器を示すものとして、1組の平均値Ω(t)を作成するステップ、 該1組の平均値Ω(t)を低域濾波することにより、1組の濾波値Γ(t)を作成する低域濾波ステップ、 各検出器tに対して、対応する濾波値Γ(t)を対応する平均値Ω(t)から減算して、エラー値e(t)を作成する減算ステップ、 所与の検出器に関連するエラー値e(t)に応じて所与の検出器の信号処理回路を調整する調整ステップを有する前記方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-048731
  
• 特開昭60-048731