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J-GLOBAL ID：200903038221722844
再生ヘッド非線形歪の定量評価装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 光男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993205402
Publication number (International publication number)：1995057227
Application date： Aug. 19, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：
【要約】【目的】 再生ヘツドの再生孤立波形間干渉の影響を除去し、正しい2次高調波歪み率を測定することを目的とする。【構成】 繰り返し記録磁化からの再生信号の2次高調波歪み率を測定して再生性ヘツド非線形歪みの定量評価を行う装置に関し、再生孤立波形の半値幅の4倍以上の繰り返し周期を持つ記録磁化パターンを測定する。
Claim (excerpt)：
測定対象の再生ヘッドの孤立再生波形の半値幅を測定する手段と、上記半値幅の約4倍以上の周期を持つ繰り返し磁化パターンを記録する手段と、被測定ヘッドからの再生波形の2次高調波歪み率を測定する手段と、を持つことを特徴とする再生ヘッド非線形歪の定量評価装置。
IPC (2)：
G11B 5/455
, G11B 5/09 361
