Pat
J-GLOBAL ID:200903038231392346
検眼装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
日比谷 征彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991203176
Publication number (International publication number):1993023302
Application date: Jul. 19, 1991
Publication date: Feb. 02, 1993
Summary:
【要約】【目的】 小型光学系で高精度な被検眼位置検出を行い、装置全体を移動せずに角膜反射像を行うことを可能にする。【構成】 位置合わせ時には2個の位置合わせ用光源20a 、20a'を点灯すると、これらの光束は被検眼Eに到達して前眼部を照射し、その角膜Ecにおける反射像Ma、Ma' はダイクロイックミラー9を透過してオートアライメント機構8のミラー8a〜8dによって反射され、ダイクロイックミラー7、レンズ14、ダイクロイックミラー13を経て、撮像素子15上に結像される。撮像素子15上の像間距離から被検眼Eの光軸方向位置が検出され、像の光軸からのずれ量から光軸に垂直面内での被検眼Eの位置が検出される。検出されたずれ情報より、眼屈折値測定用光学系16のミラー8a〜8dを移動して被検眼Eの位置合わせを行う。
Claim (excerpt):
測定光軸外に設けた少なくとも2個の光源と、これらの光源の角膜反射像位置を撮像する撮像手段と、光学部材を駆動して位置合わせを行うことが可能な眼屈折値測定用光学系とを有し、前記撮像手段によって撮像された角膜反射像位置の間隔から前記眼屈折値測定用光学系のアライメント作動距離情報を得ることを特徴とする検眼装置。
IPC (2):
FI (2):
A61B 3/10 D
, A61B 3/10 C
Patent cited by the Patent:
Return to Previous Page