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J-GLOBAL ID：200903038261670332

電球用のガスの純度及び/又は圧力の測定方法及び装置

Inventor： アイゼマン、ハンス ,  トウエステン、カーレン
Applicant, Patent owner： パテント-トロイハント-ゲゼルシヤフト フユア エレクトリツシエ グリユーランペン ミツト ベシユレンクテル ハフツング
Agent (1)： 富村 潔
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996524578
Publication number (International publication number)：1998513566
Application date： Feb. 14, 1996
Publication date： Dec. 22, 1998
Summary：

【要約】本発明による方法によれば、圧力に依存しない(不純物の検出)もしくは圧力に依存する(ガス圧の測定)少なくとも1つのスペクトル線の強度が選択的に測定される。この間接検出は波長が不純物の励起エネルギーより高い励起エネルギーに相当するスペクトル線の強度を使用する。このスペクトル線の強度は不純物に対する尺度になる。又は、それぞれの不純吻の少なくとも1つのスペクトル線の強度が直接測定される。同相擾乱を除去するために、2つのスペクトル線が測定され、その測定値から比が形成される。アルゴン内の不純物の間接検出には特に波長λ1=772.4nm及びλ2=738.4nmを持つアルゴン線の強度比が適することが実証され、そしてアルゴン圧力の測定には波長λ1=763.5nm及びλ2=738.4nmを持つアルゴン線の強度比Vが適することが実証された。この測定方法は特に放電ランプの高速製造ライン内に組込むのに好適である。

Claim (excerpt)：

ガスもしくは混合ガスのガス成分及び場合によってはそれに含まれる不純物が電磁放射線を放出するためにガス放電によって励起され、不純物を検出するためにこの放射線のスペクトル成分の強度が測定される電球又は放射器用のガス、特に希ガス又は混合ガス内の不純物の検出方法において、スペクトル成分として重要な範囲では殆ど圧力に依存しない強度を持つ少なくとも1つのスペクトル線が的確に選択されることを特徴とする電球又は放射器用のガス又は混合ガス内の不純物の検出方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開2050-193056
  
• 特開2050-198047
  
• 特開2045-013664
  
• 特開2044-167236