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J-GLOBAL ID：200903038269560315

画像処理装置

Inventor： 斉藤 良博 ,  橋本 直樹 ,  平松 憲一 ,  大波多 元
Applicant, Patent owner： 東京電力株式会社 ,  株式会社東芝
Agent (1)： 松井 伸一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992351520
Publication number (International publication number)：1994176153
Application date： Dec. 09, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【目的】 たとえ複数の侵入物が重なって侵入して来た場合であっても、確実に検出・判定できるようにした画像処理装置を提供するものである。【構成】 撮像データに対して、所定の前処理を行い背景データと異なる領域を抽出して得られる判定対象物の2値画像データを、各射影パターン生成部11,12に入力し、パターンを生成後メモリ部13,14に格納する。X軸射影メモリ部に接続された特徴量抽出部15にて、パターンのピーク数並びにピーク間距離からそのパターンを構成する物体の数,重なり状況等の特徴量を抽出する。抽出部15の出力をY軸射影比較パターン生成部16に送り、パターンデータメモリ部17に格納されたモデルパターンを修正し各物体毎に比較基準となるパターンを生成後合成して比較パターンを生成する。比較部18,判定部19にてY軸射影パターンと比較パターンとを比較し、一致度が高いと人間と判定する。

Claim (excerpt)：

撮像装置にて撮像した画像データ中に、所定の検出対象物があるか否かを検出する画像処理装置において、撮像された画像データから不要部分を排除して、所定の判定対象データを抽出する手段と、その判定対象データを受けX軸射影パターンを生成する手段と、その判定対象データを受けY軸射影パターンを生成する手段と、X軸射影パターンから判定対象データを構成する物体の個数等の所定の特徴量を抽出する手段と、その特徴量を抽出する手段にて得られた特徴量からそのX軸射影パターンを構成する物体が検出対象物であるとした時のY軸射影比較パターンを生成する手段と、その生成されたY軸射影比較パターンと、前記Y軸射影パターンとを比較し、両パターンの一致度から前記判定対象データが前記検出対象物であるか否かを判断する判定手段とを備えた画像処理装置。

IPC (3)：

G06F 15/70 455 ,  G06F 15/62 380 ,  G08B 13/194