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J-GLOBAL ID：200903038343499364

微粒子検出回路

Inventor： 山羽 常雄
Applicant, Patent owner： 日立電子エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 梶山 佶是 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993262897
Publication number (International publication number)：1995092075
Application date： Sep. 27, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 微少粒径から比較的大きな粒径の微粒子まで、1つの検出回路で検出することができる微粒子検出回路を提供することにある。【構成】 通常の粒子を検出する電流電圧変換回路にさらにこれより電流変換率の大きい電流電圧変換回路を加えて、微少な粒子の検出には、この電流電圧変換回路により検出信号を発生させ、この電流電圧変換回路と通常の大きさの粒子を検出する電流電圧変換回路との間に受光素子を設けて2つの電流電圧変換回路を同時に駆動するようにすることでダイナミックレンジを大きく採るものである。

Claim (excerpt)：

所定の電流電圧変換率を有する第1の電流電圧変換回路と、微少な入力電流を検出するためにこの電流電圧変換回路より大きな電流電圧変換率を有する第2の電流電圧変換回路と、これら電流電圧変換回路の入力の間に接続された受光素子とを備え、第1及び第2の電流電圧変換回路は、前記受光素子が微粒子からの所定値以上の散乱光を受けたときに発生する電流によりそれぞれに出力電圧が発生するようにバイアスされ、前記受光素子に流れる電流値が所定値以上のときには、第1の電流電圧変換回路により変換された電圧値が検出信号とされ、前記電流値が前記所定値未満のときには第2の電流電圧変換回路により変換された電圧値が検出信号とされることを特徴とする微粒子検出回路。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/47

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭58-221149
  
• 特開昭62-115902
  

Cited by examiner (2)

• 特開昭58-221149
  
• 特開昭62-115902