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J-GLOBAL ID:200903038402915040

半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 樋口 武尚
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993050994
Publication number (International publication number):1994265584
Application date: Mar. 11, 1993
Publication date: Sep. 22, 1994
Summary:
【要約】【目的】 MOS-ICの製造に適し、かつ、入力電圧と温度変化に対して一定となる定電圧回路単位を構成し、しかも、この定電圧回路を使用することにより電圧、電流、温度等の汎用性のある検出手段として使用できること。【構成】 入力端子1と共通入出力端子2と出力端子3と、入力端子1と出力端子3の間に接続された抵抗4と、ドレインDを出力端子3に、ソースSを共通入出力端子2に、ゲートGを入力端子1にぞれぞれ接続したMOSFET5によって抵抗4とMOSFET5からなる基本回路単位を形成する。
Claim (excerpt):
入力端子と共通入出力端子と出力端子と、前記入力端子と前記出力端子の間に接続された抵抗と、ドレインを前記出力端子に、ソースを前記共通入出力端子に、ゲートを前記入力端子にぞれぞれ接続したMOSFETとを具備することを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
G01R 19/00 ,  G01R 1/28 ,  G05F 3/24

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