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J-GLOBAL ID：200903038449669480

補償光学用参照点光源の作成法

Inventor： 白井 智宏
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003092758
Publication number (International publication number)：2004303827
Application date： Mar. 28, 2003
Publication date： Oct. 28, 2004
Summary：

【課題】補償光学装置を各種映像装置に適用する際に必要となる参照点光源を、被測定物体の性状に依存することなく作成する。【解決手段】被測定物体Oの近傍に金属や誘電体の微粒子を光ピンセット装置20を用いて非接触で捕捉し、この捕捉された微粒子に鋭く絞った光を入射して点光源19を作成し、この点光源19から球面波状に放射される反射光を補償光学装置13を駆動するための参照光として利用する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、 上記被測定物体の近傍に金属や誘電体の微粒子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉し、該捕捉された微粒子に鋭く絞った光を入射して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される反射光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法。

IPC (2)：

H01S3/00 ,  G02B26/06

FI (2)：

H01S3/00 A ,  G02B26/06

F-Term (11)：

2H041AA23 ,  2H041AB12 ,  2H041AB38 ,  2H041AZ00 ,  2H052AB00 ,  2H052AC30 ,  2H052AF01 ,  2H052AF14 ,  5F072YY01 ,  5F072YY11 ,  5F072YY20