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J-GLOBAL ID:200903038478707560

密閉性試験装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 和秀
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991086723
Publication number (International publication number):1994207879
Application date: Apr. 18, 1991
Publication date: Jul. 26, 1994
Summary:
【要約】【目的】 密閉性試験装置において、高分子材料を含む接合部材についても、個人差なく正確に試験を行えるようにする。【構成】 試料Sを固定してその接合部の内外一方の露出縁にガスを導くホルダ1と、透視可能でホルダ1に固定された試料Sの周りにその他方の接合部露出縁を浸漬する状態で不活性の透明液体Fを貯溜する筒状容器3と、ホルダ1を通じて試料S側に供給されるガス圧力を漸増調節し得るガス圧力制御手段7と、筒状容器3の内部を撮像する撮像手段10と、撮像手段10の画像信号の解析により筒状容器3内での気泡発生を検出する画像解析手段12とを備えた。
Claim (excerpt):
試料(S)のホルダ(1)と、筒状容器(3)と、ガス圧力制御手段(7)と、撮像手段(10)と、画像解析手段(12)により、接合試料の密閉性を試験する装置であって、ホルダ(1)は、試料(S)を固定してその接合部の内外一方の露出縁にガスを導くものであり、筒状容器(3)は、透視可能で、ホルダ(1)に固定された試料(S)の周りにその他方の接合部露出縁を浸漬する状態で不活性の透明液体(F)を貯溜するものであり、ガス圧力制御手段(7)は、ホルダ(1)を通じて試料(S)側に供給されるガス圧力を漸増調節し得るものであり、撮像手段(10)は、筒状容器(3)の内部を撮像するものであり、画像解析手段(12)は、撮像手段(10)の画像信号の解析により筒状容器(3)内での気泡発生を検出するものであることを特徴とする密閉性試験装置。

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