Pat
J-GLOBAL ID：200903038486683646

動きベクトル検出装置および検出方法

Inventor：
小倉 英史

About 小倉 英史


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (1)： 杉浦 正知
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995119116
Publication number (International publication number)：1996294129
Application date： Apr. 20, 1995
Publication date： Nov. 05, 1996
Summary：
【要約】【目的】 動きベクトル装置において、誤検出が起こりにくいようなサブサンプルを行なう。【構成】 4ライン×4画素によって構成される基準ブロックを4ライン×2画素で構成される2つの基準小ブロック41、42に分割する。また、検査ブロック43も同様にして2つの検査小ブロック44、45に分割する。基準小ブロック41、42のデータに対し、それぞれ最大値および最小値を有するデータ位置を特定する。検査小ブロックの中で、これら特定されたデータ位置に対応するデータ位置のデータを選択し、選択されたこれら検査小ブロックのデータおよび対応する基準小ブロックのデータに対し残差が算出される。このように適応的に基準ブロックをサブサンプルすることによって、固定画素をサブサンプルする方法に比べ、動きベクトルの誤検出が起こりにくくなる。
Claim (excerpt)：
基準ブロックのデータと検査ブロックのデータとを演算することによって、ブロック単位で動きベクトルを検出するような動きベクトル検出装置において、上記基準ブロックのデータの中で、該基準ブロックの特徴を比較的反映するようにデータを選択し、上記基準ブロックの中の選択された上記データと対応する検査ブロック中のデータを選択するデータ選択手段と、選択された上記基準ブロックのデータと、選択された上記検査ブロックのデータとから動きベクトルを検出するための演算手段とを有することを特徴とした動きベクトル検出装置。
IPC (2)：
H04N 7/32 ,  H04N 11/04
FI (2)：
H04N 7/137 Z ,  H04N 11/04 B
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM