Pat

J-GLOBAL ID：200903038537388105

表面疵検査装置及びその方法

Inventor： 大重 貴彦 ,  山田 善郎 ,  上杉 満昭 ,  的場 有治 ,  猪股 雅一 ,  吉川 省二 ,  河村 努 ,  杉浦 寛幸
Applicant, Patent owner： 日本鋼管株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997357926
Publication number (International publication number)：1999183398
Application date： Dec. 25, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出する。【解決手段】 本発明の表面疵検査装置は、被検査面に照明光を入射する線状拡散光源(22)と、被検査面からの正反射光に含まれる鏡面反射成分と鏡面拡散反射成分のうち、鏡面拡散反射成分に比較して鏡面反射成分をより多く抽出し受光する第1の受光手段(28a,29a)と、被検査面からの正反射光に含まれる鏡面反射成分と鏡面拡散反射成分のうち、鏡面反射成分に比較して鏡面拡散反射成分をより多く抽出し受光する第2の受光手段(28b,29b)と、第1及び第2の受光手段で受光された鏡面反射成分及び鏡面拡散反射成分に基づいて被検査面の表面疵の有無を判定する判定処理部(40)とを備えている。

Claim (excerpt)：

被検査面に照明光を入射する線状拡散光源と、前記被検査面からの正反射光に含まれる鏡面反射成分と鏡面拡散反射成分のうち、鏡面拡散反射成分に比較して鏡面反射成分をより多く抽出し受光する第1の受光手段と、前記被検査面からの正反射光に含まれる鏡面反射成分と鏡面拡散反射成分のうち、鏡面反射成分に比較して鏡面拡散反射成分をより多く抽出し受光する第2の受光手段と、前記第1及び第2の受光手段で受光された鏡面反射成分及び鏡面拡散反射成分に基づいて前記被検査面の表面疵の有無を判定する判定処理部とを備えた表面疵検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 表面疵の検出方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-280250   Applicant：日本鋼管株式会社
• 亜鉛めっき系鋼板用表面欠陥検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-231957   Applicant：新日本製鐵株式会社
• 鋼板表面欠陥検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-217227   Applicant：新日本製鐵株式会社